奧林巴斯超聲測厚儀45MG
操作簡便、堅固耐用、性能可靠
•彩色透反QVGA顯示
•雙晶腐蝕測厚
•精確厚度測量
•堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。
抵御惡劣環(huán)境的能力
• 堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準。
• 爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA•70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
• 防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15•g，11•msec半弦波。
• 防振動測試：通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
• 寬泛的操作溫度范圍
• 可選的帶有支架的橡膠保護套
簡便操作的設(shè)計理念
• 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
• 可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
• 使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
• USB通訊端口
• 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
• 默認或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
• 密碼保護方式的儀器鎖定
• 彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有很高的清晰度
標(biāo)準功能
45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過最基本的培訓(xùn)，就可完成常用的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
• 與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
• 最小值/最大值模式
• 兩個報警模式
• 差值模式
• 時基B掃描
• 縮減率
• 增益調(diào)整（標(biāo)準、高、低）
• 密碼式儀器鎖定
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身
45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途很廣泛的測厚儀行列
回波到回波/穿透涂層
使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層
單晶
這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量?？膳c范圍在2.25MHz到30MHz的單晶Microscan探頭相兼容
單晶高穿透
這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或•鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5MHz到30MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描
用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
使用雙晶探頭
45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中最常使用的是雙晶探頭。
• 用于標(biāo)準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• 當(dāng)校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測量：溫度可高達500•℃
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料•進行厚度測量
使用單晶探頭
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與
單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
• 在使用頻率范圍為2.25•MHz到30•MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 測量厚度、聲速或渡越時間。
• 自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
奧林巴斯超聲測厚45MG
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波
（可選）在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量
（可選）
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭）
單晶探頭測量模式（可選）
模式1： 激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔
模式2： 延遲塊回波與第一個底面回波之間的時間間隔
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
模式3： 在激勵脈沖之后，位于第一個表面回波后的相
鄰底面回波之間的時間間隔
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
厚度范圍 0.080mm～635mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量很全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍0.508mm/μs～18.699mm/μs
分辨率（可選擇）
低分辨率：0.1毫米
標(biāo)準分辨率：0.01毫米
單晶選項：0.001毫米
探頭頻率范圍標(biāo)準：2.25MHz～30MHz（–3dB）
高穿透（單晶選項）：0.50MHz～30MHz（–3dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍–10℃～50℃
鍵盤密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。
設(shè)計符合IP67標(biāo)準。
外型尺寸（寬x高x厚）總體尺寸：91.1毫米x162毫米x41.1毫米
重量431克
電源
3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)電池工作時間３節(jié)AA堿性電池：20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時標(biāo)準設(shè)計符合EN15317標(biāo)準。
顯示
彩色透反QVGA顯示液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米x41.15毫米檢波全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）
輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡最大容量：2GB可插拔MicroSD存儲卡內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形文件名稱和ID編碼32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu)6個標(biāo)準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)報告
機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的最小值/最大值、最小值回顧、文件比較及報警報告
標(biāo)準配置
• 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
• AA堿性電池
• 2階試塊和耦合劑
• USB線纜
• 用戶手冊，存于CD盤上
• 測量功能：最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項
45MG-SE(U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為
2.25MHz～30MHz的單晶探頭。
45MG-HP(U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5•MHz～30•MHz的單晶探頭。
45MG-EETC(U8147021)：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF(U8147019)：波形選項
45MG-DL(U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序
選購附件
MICROSD-ADP-2GB(U8779307)：2GB外置MicroSD存儲卡
45MG/RPC(U8779676)：帶支架的橡膠保護套
