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B1S系列美國(guó)GE帶保護(hù)膜歐洲規(guī)格探傷儀探頭的詳細(xì)資料

???美國(guó)GE超聲渦流相控陣探頭性能及應(yīng)用

GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用程序的用戶(hù)提供廣泛的服務(wù)。

我們的使命是匯聚來(lái)自多個(gè)行業(yè)和模式的全球知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，以幫助客戶(hù)迅速解決他們的檢查應(yīng)用問(wèn)題。

憑借無(wú)出色的業(yè)績(jī)記錄，我們經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師，技術(shù)人員和專(zhuān)家是客戶(hù)的重要資產(chǎn)。他們的經(jīng)驗(yàn)豐富，涵蓋了許多NDT模式和許多行業(yè)領(lǐng)域-從射線照相技術(shù)的發(fā)展定制渦流設(shè)計(jì)的解決方案，用于檢查生產(chǎn)車(chē)間的航空航天零件用于電力，石油，天然氣和汽車(chē)行業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢查的探頭。

新材料，專(zhuān)為特定應(yīng)用而設(shè)計(jì)。我們提供各種特殊應(yīng)用的傳感器，其中一些顯示在這些頁(yè)面。

探頭選擇規(guī)范與性能

接觸式換能器檢驗(yàn)方法

直梁—單個(gè)元素

•具有規(guī)則幾何形狀的零件和相對(duì)光滑的接觸面

•平坦或彎曲的接觸面

•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束

•用于厚實(shí)的滲透

欄目

•延遲線類(lèi)型改善了近地表解析度

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑

•通常用于手動(dòng)檢查直光束-雙元素（TR）

•發(fā)送和接收元素被串?dāng)_隔離

•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束

•薄型表面，近表面解析度

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊

•通常用于手動(dòng)檢查角鋼

•元件安裝在一體式或可更換的楔子

•使用折射來(lái)傳遞剪切力或縱波在預(yù)定角度

•用于傾斜零件缺陷，例如焊縫

•提供單元素和雙元素類(lèi)型

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試

接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂

直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

接觸式和水浸式接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊