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奧林巴斯超聲探傷儀單晶縱波探頭的詳細(xì)資料

?奧林巴斯超聲探傷儀測頭M1054

介紹

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。• 可用于檢測多種材料。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。• 分層缺陷的探測和定量。• 材料特性評價(jià)和聲速測量。• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

磁性固定接觸式

• 繞探頭外殼的磁性環(huán)可將探頭穩(wěn)固在鐵性材料上。

• 具有與Videoscan系列探頭相似的寬帶性能

注意：以上所有磁性固定接觸式探頭都帶有平直Microdot 連接器。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢

• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了時(shí)間分辨率。

• 短波長可獲得很強(qiáng)的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度

• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。

• 可對材料進(jìn)行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測法時(shí)，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價(jià)、材料分析或厚度測量。

•3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。