服務(wù)熱線
18939261751
手機(jī):18939261751
美國GE水浸密封性外殼直探頭
更新時(shí)間:2024-04-02
美國GE水浸密封性外殼直探頭Z15M貝克休斯BH表面接觸美國GE水浸探頭 高水密封性外殼直探頭接觸法探頭直射線---單晶?被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面?接觸面或平或曲?缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)?透透厚部件?逐步塊改善提高近場分辨率?需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊?通常用于手動(dòng)檢測(cè)
Z15M美國GE水浸密封性外殼直探頭的詳細(xì)資料
美國GE水浸探頭 高水密封性外殼直探頭
接觸法探頭
直射線---單晶
•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
•接觸面或平或曲
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
•透透厚部件
•逐步塊改善提高近場分辨率
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭---雙晶
•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
•近表面分辨率好,用于較薄部件
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上
•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
•有所傾斜的缺陷的檢測(cè),如焊縫
•有單晶探頭和雙晶探頭
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能
浸入式傳感器
•聲學(xué)匹配水效率
•適用于不規(guī)則零件幾何形狀
•常用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試
•方法,以實(shí)現(xiàn)一致的耦合和可重現(xiàn)的結(jié)果
•大型零件可以使用探頭支架,鼓泡器或水射流
•換能器可專注于改進(jìn)結(jié)果
聚焦浸入式傳感器
•球形焦點(diǎn)形成一個(gè)點(diǎn)或點(diǎn)
•圓柱焦點(diǎn)形成一條線集中優(yōu)勢(shì)球形(點(diǎn))重點(diǎn)圓柱(線)
重點(diǎn)
提高對(duì)小缺陷的敏感性提高近表面分辨率修正輪廓表面提高信噪比
可選型號(hào)
Z1N
Z4N
Z2K
Z4KP20
Z5K
Z5M
Z10M
Z15M
美國GE特殊探頭 原德國KK
數(shù)字化|渦流|膠片|檢測(cè)系統(tǒng)|超聲波| X射線
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問題
如果您正有一個(gè)檢測(cè)難題需要解決,而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問題,那么您需要讀讀這本小冊(cè)子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測(cè)領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭,它們都已經(jīng)通過檢測(cè)驗(yàn)證,得到用戶的肯定,并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測(cè)問題。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣,我們需要把同類型的探頭歸類在一起,從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類(例如B2S-0A)。在這種情況下,為了選擇合適的探頭,您必須要對(duì)檢測(cè)任務(wù)有詳細(xì)的了解。
的解決方案是您能發(fā)給我們檢測(cè)物件的圖紙,上面標(biāo)有探頭位置,缺陷位置,可能需要的頻率等。如果您在這本冊(cè)子里沒有找到與您的檢測(cè)問題相關(guān)的信息,也請(qǐng)把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們,我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂意為您尋求解決方案并為您提供合適的探頭。
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問題
①RB MRB…型
用于管道周向檢測(cè)的斜探頭,能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的。Lemo00接頭。
②IR…型
從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度。
③Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz,6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭,帶2.5m探頭線。我們也能提供其他
頻率,晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭,相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來檢測(cè)橫向缺陷。
④IALF10…型
10MHz水浸探頭,園柱曲面,晶片寬30mm,由PVDF材料制成,帶1.5m
Lemo1接口探頭線??商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。
鐵軌檢測(cè)探頭
①SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 , 0.95m探 頭 線 ,Lemo接頭。
②SESZW…型
雙晶斜探頭,聲束同時(shí)向前,向后70o入射,2MHz,帶0.75m探頭線,Lemo1接頭。
③WB45-01型
45o斜探頭,1MHz,頂端帶Lemo1接頭;套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測(cè)鐵軌。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)。用于坯餅檢測(cè)時(shí)請(qǐng)參
考第6頁,板坯檢測(cè)。關(guān)于其他的檢測(cè)問題,請(qǐng)聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。
用于軸承和輪軸
①B2S-0A…型
1MHz,2MHZ,4MHZ斜探頭,晶片直徑24mm,可更換保護(hù)膜。通過不同角度延
遲塊得到7o14o21o28o 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
②AW…型
斜探頭,延遲塊可更換,2MHZ,晶片直徑24mm,Lemo1接頭;適用于橫波探
傷,探頭接觸面可與曲面耦合。
③ASW…型
斜探頭,用橫波檢測(cè)輪軸中心孔,帶有2m探頭線,Lemo1插頭一個(gè)。
④B…S, MB…S
直探頭,可提供各種頻率,晶片直徑為10mm和24mm,帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭,MB…S探頭為Lemo00接頭。
⑤Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭,專為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì),與Lemo 00插頭匹配。
注釋:
對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差),請(qǐng)參照第15頁“粗晶結(jié)構(gòu)材料
的檢測(cè)"。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁“大型部件檢測(cè)"。
用于板坯
①SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭,聲束寬度約為50mm,由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成,一根探頭線,帶有4個(gè)Lemo1接頭。
①5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭,聲束寬度約為25mm,帶Lemo1接頭的探頭線,尤其適合板材邊緣檢測(cè)。
②B…S-O型
提供各種頻率的直探頭,可更換保護(hù)膜,頂部Lemo1接頭。例如用于檢測(cè)平板輥筒。
③SEZ4N30V,SEB4TV型
4MHz雙晶探頭,2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根,即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。
④UWB…
1 MHz,2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭,可以得到縱波和橫波,配有Lemo1接
口,用于產(chǎn)生蘭姆波。
用于大型部件
①NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ,2MHZ,晶片直徑34mm,50mm,或
75mm,深度越深處,焦點(diǎn)直徑越小,Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相
鄰缺陷。
②WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 , 晶 片 直 徑3 4 m m,50mm,或75mm,深度越深處,焦點(diǎn)直徑越小,Lemo1接頭。
③SEB…G型
雙晶探頭,1 MHz或2 MHz, 大晶片,深度聚焦,Lemo 00接頭。
④GRST…型
相控陣探頭,聲束焦點(diǎn)和角度可變,可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。