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全聚焦相控陣探傷儀
更新時(shí)間:2024-04-02
全聚焦TFM相控陣探傷儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級(jí)成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。
TFM全聚焦相控陣探傷儀的詳細(xì)資料
提供全聚焦方式(TFM)功能的OmniScan X3相控陣探傷
OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級(jí)成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。
速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍(脈沖重復(fù)頻率)
單獨(dú)的衍射時(shí)差(TOFD)菜單,加快了工作流程
改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn),使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創(chuàng)建設(shè)置的過(guò)程
機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡(jiǎn)化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)的設(shè)置工作。
如果您是OmniScan MX2儀器的用戶,您可以從現(xiàn)有的儀器迅速地過(guò)渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測(cè)或全聚焦方式(TFM),您可以通過(guò)OmniScan X3探傷儀輕松地學(xué)習(xí)這些知識(shí)
符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵機(jī)載GPS,
可提供采集數(shù)據(jù)的位置
可通過(guò)無(wú)線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),以下載最新的軟件
得益于25 GB的文件容量,儀器可以無(wú)需停歇,持續(xù)掃查。
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。
與現(xiàn)有的探頭和掃查器相兼容
32:128PR型號(hào),提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
還提供16:64PR和16:128PR型號(hào)
最多8個(gè)聲束組,1024個(gè)聚焦法則
與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
64 GB的內(nèi)置存儲(chǔ)容量,還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤擴(kuò)展存儲(chǔ)容量
OmniScan X3儀器的軟件性能強(qiáng)大,其簡(jiǎn)潔、現(xiàn)代的菜單結(jié)構(gòu)減少了按鍵的次數(shù),改進(jìn)了從開始設(shè)置到最后制作報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)過(guò)程,因此無(wú)論新老用戶都會(huì)得心應(yīng)手地使用這款儀器。
儀器的包絡(luò)處理功能,可以為缺陷生成高清全聚焦方式(TFM)圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下,顯得更為清晰鮮明。
在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來(lái)自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。
在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來(lái)自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。
聲學(xué)技術(shù)規(guī)格
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TFM/FMC
操作環(huán)境
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